Gowin Semiconductor – корпорация, разрабатываемая и производящая программируемые логические устройства (ПЛИС), объявила о сертификации среды проектирования ПЛИС GOWIN EDA на соответствие стандартам функциональной безопасности ISO 26262 и IEC 61508 в испытательной лаборатории TUV.
Сертификация дает OEM-производителям автомобильной техники уверенность в том, что проекты, включающие ПЛИС GOWIN Arora-V (средней плотности), Arora-II (низкой/средней плотности) или LittleBee (низкой плотности), могут соответствовать требованиям функциональной безопасности системного уровня, изложенным в стандартах ISO 26262 и IEC 61508. Семейство ПЛИС Arora V от компании Gowin Semiconductor предназначено для высокопроизводительных приложений.
Оно оснащено:
• высокоскоростными интерфейсами (270 Мбит/с — 12,5 Гбит/с);
• жестким ядром PCIe 2.1 с поддержкой режимов PCIe x1, x2, x8;
• одноканальным модулем жесткого ядра MIPI со скоростью до 2,5 Гбит/с;
• интерфейсом DDR3 со скоростью до 1333 Мбит/с.
Получение сертификата функциональной безопасности, как ожидается, вызовет повышенный интерес к ПЛИС GOWIN, которые доступны в версиях, сертифицированных по AEC-Q100 Grade 2 (ожидается по AEC-Q100 Grade 1). Ассортимент продукции GOWIN имеет сертификаты качества и надежности: IATF16949, ISO 9001, ISO 14001 и ISO/IEC 17025.
Оно оснащено:
• высокоскоростными интерфейсами (270 Мбит/с — 12,5 Гбит/с);
• жестким ядром PCIe 2.1 с поддержкой режимов PCIe x1, x2, x8;
• одноканальным модулем жесткого ядра MIPI со скоростью до 2,5 Гбит/с;
• интерфейсом DDR3 со скоростью до 1333 Мбит/с.
Получение сертификата функциональной безопасности, как ожидается, вызовет повышенный интерес к ПЛИС GOWIN, которые доступны в версиях, сертифицированных по AEC-Q100 Grade 2 (ожидается по AEC-Q100 Grade 1). Ассортимент продукции GOWIN имеет сертификаты качества и надежности: IATF16949, ISO 9001, ISO 14001 и ISO/IEC 17025.