Мы используем файлы cookie. Они помогают улучшить ваше взаимодействие с сайтом.
Ок
Страница находится в разработке
Услуги
Справочная информация
Возможности
Инженерия
Производство
Применение
Ru
Новости электроники

Передовая инспекция для тестирования печатных плат на выставке NEPCON China 2025

Компания Test Research, Inc. (TRI), ведущий поставщик систем тестирования и контроля для электронной промышленности, примет участие в выставке NEPCON China 2025, которая пройдёт в Шанхае с 22 по 24 апреля 2025 года.

Компанией TRI на выставке будут представлены:
  • 3D SEMI AOI TR7700Q SII-S с поддержкой искусственного интеллекта,
  • провода толщиной до 15 микрометров и подложки,
  • 3D-тестер плат высокого разрешения AXI TR7600F3D LL SII,
  • высокопроизводительный тестер плат TR8001 SII с большим количеством выводов,
  • высокоскоростной 3D AOI TR7700QH SII,
  • улучшенный 3D SPI TR7007Q SII со скоростью инспекции 80 см²/с,
  • полигональный 3D AOI TR7500QE Plus,
  • многоядерный ICT TR5001Q SII INLINE.
  • инструменты обучения, станции и узлы проверки ИИ,
  • интеллектуальное программирование ИИ и многое другое.
Вся продукция соответствуют стандартам Smart Factory, таким как IPC-Hermes-9852, IPC-CFX и IPC-DPMX. Посетить стенд TRI №1J50 на выставке NEPCON China 2025, чтобы ознакомиться с высококачественными и высокоточными решениями для тестирования и контроля печатных плат.