TRI, ведущий поставщик систем тестирования и контроля, примет участие в выставке NEPCON Japan 2025.
Компания представит новейшие решения для внутреннего контроля, включая TR7007Q SII-S и TR7700Q SII-S. TR7007Q SII-S может инспектировать мини-светодиоды, неровности C4 и пасты 008004, а TR7700Q SII-S оборудован искусственным интеллектом для проверки матриц, проволок, SiP, подложек и неровностей.
На выставке также будут представлены высокоскоростной многокамерный 3D AOI TR7500QE Plus, высокоскоростной 3D CT AXI TR7600 SIII и модульный тестер плат TR5001E SII. Приглашаются посетители выставки посетить стенд TRI, чтобы узнать о последних инновациях в области тестирования и контроля для SMT и производства полупроводников.
На выставке также будут представлены высокоскоростной многокамерный 3D AOI TR7500QE Plus, высокоскоростной 3D CT AXI TR7600 SIII и модульный тестер плат TR5001E SII. Приглашаются посетители выставки посетить стенд TRI, чтобы узнать о последних инновациях в области тестирования и контроля для SMT и производства полупроводников.